一、10kv高压开关柜耐压试验介绍

10kv开关柜耐压测试是检验电器、电气设备、电气装置、电气线路和安全用具等，承受过电压能力的主要方法之一，10kv高压开关柜根据试验要求可以分工频（AC）耐压试验和直流（DC）耐压试验。

二、10kv高压开关柜交流耐压试验方法

工频耐压适用于电力系统对各种高压电气设备、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验，其试验电压为被试设备额定电压的一倍至数倍，由于电压高，可以通过YDJ油浸式试验变压器满足其测试要求。

其加压时间:对于以瓷和液体为主要绝缘的设备为1分钟，对于以有机固体为主要绝缘的设备为5分钟，对于电压互感器为3分钟，对于油浸电力电缆为10分钟。

三、10kv高压开关柜直流耐压试验方法

ZGF系列直流高压发生器属于破坏性试验，试验过程中会对设备产生一定程度的损害，为检测设备在高压试验下承受的最大电压峰值,便于确定设备的使用范围和选择设备的量程,直流高压发生器可通过不同试验电压时泄漏电流的数值、绘制泄漏电流、电压特性曲线。电气设备经耐压试验能够发现绝缘的局部缺陷、受潮及老化。

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超值下载电容式电压互感器分压电容介损现场电容式电压互感器分压电容介损现场电容式电压互感器电容量和介损试验方法的探讨电容式电压互感器介损测试分析220KV电容式电压互感器（TYD）试验方法17电容式电压互感器试验方法的探讨19电容式电压互感器试验内容及方法27电容式电压互感器现场介损测量方法分析49电容式电压互感器分压电容介损现场电容式电压互感器(简称CVT)的分压电容C2电容量很大，如TYD110-0.015的C2为7075nF。而500kV CVT的分压电容(C2)的电容量高达140nF。按图1测量C2的介质损耗时，必须注意测量时接触应良好，否则将带来较大的测量误差。 图1为西林

2、电桥正接线测量分压电容C2的电容量和介质损耗原理接线图。测量引线CX接于C2下端点的接线螺栓上。试品为TYD110-0.015，其3相介质损耗的测量值分别为： A相：tanC2=0.52%； B相：tanC2=0.49%； C相：tanC2=0.47% 其介质损耗值均超过电力部DLT596-1996电力设备预防性试验规程的规定值tanC20.2%(膜纸绝缘耦合电容器的介质损耗应不大于0.2%)。现场对上述三台CVT进行了更换。 更换后，在试验室进行试验以寻找不合格的具体原因。在对试品检查时发现，三台CVT的接线螺栓均有锈迹，立即进行清除，再次试验，其结果分别为： 至此，已十分清楚，由于点接线螺

3、栓的锈迹未清除，导致测量时接触不良，使三台合格的CVT，测量结果却不合格，造成了不必要的更换。 图2为分析点接触不良的等效原理图。试品本身的等效电路为CX、RX并联，其等值介质损耗为tanX=1/WCXRX。 而点的接触电阻视为一集中电阻RJ。按图2等效电路，实测介质损耗为tanX。

4、大电容而介质损耗标准很小的试品，测量时，必须注意由于接触不良引起的偏大的测量误差。稍不注意就可能使分压电容C2的介质损耗tanC2超过规程的规定值0.2%。所以当CVT分压电容C2的介质损耗超出规程时，要检查试验接线是否接触良好。 应该指出，对于一般试品由于其电容CX仅为几百微微法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻RJ的影响，其值CXRJ均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8%)，所以CXRJ的影响相对亦小一些。往往不会使实测tan超过规程的规定值。 结论：测量大电容小介损试品时，必须注意测量引线接触不良造成的

5、偏大测量误差，尤其当实测介质损耗不合格时必须排除引线接触电阻的影响。 电容式电压互感器分压电容介损现场摘要： 分析了由于接触不良引起电容式电压互感器分压电容C2的介质损耗tanC2偏大的测量误差及其消除方法。关键词： 电容式电压互感器 接触不良 介质损耗 测量误差电容式电压互感器(简称CVT)的分压电容C2电容量很大，如TYD110-0.015的C2为7075nF。而500kV CVT的分压电容(C2)的电容量高达140nF。按图1测量C2的介质损耗时，必须注意测量时接触应良好，否则将带来较大的测量误差。 图1为西林电桥正接线测量分压电容C2的电容量和介质损耗原理接线图。测量引线CX接于C2下

6、端点的接线螺栓上。试品为TYD110-0.015，其3相介质损耗的测量值分别为： A相：tanC2=0.52%； B相：tanC2=0.49%； C相：tanC2=0.47% 其介质损耗值均超过电力部DLT596-1996电力设备预防性试验规程的规定值tanC20.2%(膜纸绝缘耦合电容器的介质损耗应不大于0.2%)。现场对上述三台CVT进行了更换。 更换后，在试验室进行试验以寻找不合格的具体原因。在对试品检查时发现，三台CVT的接线螺栓均有锈迹，立即进行清除，再次试验，其结果分别为： 至此，已十分清楚，由于点接线螺栓的锈迹未清除，导致测量时接触不良，使三台合格的CVT，测量结果却不合格，造成

7、了不必要的更换。 图2为分析点接触不良的等效原理图。试品本身的等效电路为CX、RX并联，其等值介质损耗为tanX=1/WCXRX。 而点的接触电阻视为一集中电阻RJ。按图2等效电路，实测介质损耗为tanX。 CVT由于分压电容C2140nF，当RJ=45时，CXRJ=0.2%。也就是说，对此类大电容而介质损耗标准很小的试品，测量时，必须注意由于接触不良引起的偏大的测量误

8、差。稍不注意就可能使分压电容C2的介质损耗tanC2超过规程的规定值0.2%。所以当CVT分压电容C2的介质损耗超出规程时，要检查试验接线是否接触良好。 应该指出，对于一般试品由于其电容CX仅为几百微微法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻RJ的影响，其值CXRJ均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8%)，所以CXRJ的影响相对亦小一些。往往不会使实测tan超过规程的规定值。 结论：测量大电容小介损试品时，必须注意测量引线接触不良造成的偏大测量误差，尤其当实测介质损耗不合格时必须排除引线接触电阻的影响。电容式电压

9、互感器电容量和介损试验方法的探讨测量一节电容式电压互感器接线采用自激法：测试仪器高压线接中压电容器尾N(N要悬空独立)，测量线接上段，低压输出线接da,dn;低压输出电压为2Kv,可以测出C1和C2电容值，根据C=C1*C2/(C1+C2)算出总电容（串联后）测量二节电容式电压互感器接线采用自激法：1、最上节电容器测量反接法：最上节电容器上段接地，测试仪器高压线接上节电容器下段，二次接线盒内打开下节电容器尾和中间变压器一次尾与地的连接片后将两点短接接高压线的屏蔽线，试验电压加2KV2、最下节电容器测量方法与测量一节电容器自激法一样测量C电容仪器高压线接下节套管顶部CX线接二次接线盒N(二次接线

10、盒N、XL和接地端子连接片打开,XL悬空)短接1a、1n正接线方式加压10Kv1测量一节电容式电压互感器接线采用自激法：测试仪器高压线接中压电容器尾N(N要悬空独立)，测量线接上段，低压输出线接da,dn;低压输出电压为2Kv,可以测出C1和C2电容值，根据C=C1*C2/(C1+C2)算出总电容（串联后）1:单位换算1F=1000mf=1000uf=1000nf2测量C电容仪器高压线接下节套管顶部CX线接二次接线盒N(二次接线盒N、XL和接地端子连接片打开,XL悬空)短接1a、1n正接线方式加压10Kv电容式电压互感器介损测试分析1 电介质损耗测试原理1.1 电介质损耗的等值电路电介质中如果

11、没有损耗，则在交变电场作用下，则是纯电容电流iC ，且iC 超前电压90。实际上，所有的电介质都不可避免的具有一定的损耗，在电介质中流过的电流都含有一定的有功损耗分量，故它超前电压一个角度，小于90。为的余角，称为介质损耗角。的大小决定于电介质中有功电流与无功电流之比。电介质损耗的并联等值电路及向量分析图 电介质损耗的串联等值电路及向量分析图式中：S极板面积，d极板间距离，P介质损耗的功率，I介质中的总电流，绝缘介质的电阻率，角频率由此可知，电介质的介质损耗除与施加电源的频率有关外，它与介质的介电常数及电阻率有关，而与电极的尺寸无关。当电介质一定、外加电压及频率一定时，介质损耗的功率与tan成